检测内容及要求检测内容: 最大尺寸长30mm*宽15mm的产品的尺寸检测

序号 检测位置 检测方式 是否可检
1 针脚台阶尺寸 背光检测 可检
2 倒角位置 不可检
3 斜面位置 不可检

注明:IC芯片自动化视觉检测设备检测项目,均需在影像下清晰可见才能检测。检测效率:每分钟检测数量 不低于150件(取决于产品送料速度)

二、设备组成及主要机构设备型号:INTED-T300非标定制机 外形尺寸:900*800*1850mm 组成部件清单:

序号 部件名称 规格型号 数量 备注
1 视觉检测软件 盈泰德视觉检测 1套 数据可上传
2 工业电脑 盈泰德定制 1套
3 显示器 PHILIPS19”液晶显示器 1台
4 工业相机 Barsler工业相机 1套
5 相机调节伺服模组 盈泰德定制 1套
6 工业镜头 FA高清光学工业镜头 1套
7 光源 定制光学自适应光源 1套
8 检测平台 专业光学玻璃载台 1套
9 伺服电机 松下·PANASONIC 1套
10 控制系统 盈泰德定制 1套
11 PLC运动协作 松下·PANASONIC 1套

三、样件测试图片:
顶部背光检测原图(G8301909-102-LFS1):

IC芯片自动化视觉检测电容电阻尺寸方案-机器视觉_视觉检测系统_视觉检测设备_3D缺陷检测
顶部背光检测良品分析图(G8301909-102-LFS1):OK
IC芯片自动化视觉检测电容电阻尺寸方案-机器视觉_视觉检测系统_视觉检测设备_3D缺陷检测顶部背光检测原图(G8340010-001-LFS1):

IC芯片自动化视觉检测电容电阻尺寸方案-机器视觉_视觉检测系统_视觉检测设备_3D缺陷检测

顶部背光检测良品分析图(G8340010-001-LFS1):OK

IC芯片自动化视觉检测电容电阻尺寸方案-机器视觉_视觉检测系统_视觉检测设备_3D缺陷检测

顶部背光检测原图(34475-001-LFS1):

IC芯片自动化视觉检测电容电阻尺寸方案-机器视觉_视觉检测系统_视觉检测设备_3D缺陷检测

顶部背光检测良品分析图(34475-001-LFS1):OK

IC芯片自动化视觉检测电容电阻尺寸方案-机器视觉_视觉检测系统_视觉检测设备_3D缺陷检测
顶部背光检测原图(LED-45188551-LF):

IC芯片自动化视觉检测电容电阻尺寸方案-机器视觉_视觉检测系统_视觉检测设备_3D缺陷检测
顶部背光检测良品分析图(LED-45188551-LF):OK
IC芯片自动化视觉检测电容电阻尺寸方案-机器视觉_视觉检测系统_视觉检测设备_3D缺陷检测顶部背光检测原图(TS1025186-00-AS1):
IC芯片自动化视觉检测电容电阻尺寸方案-机器视觉_视觉检测系统_视觉检测设备_3D缺陷检测
顶部背光检测良品分析图(TS1025186-00-AS1):OK

IC芯片自动化视觉检测电容电阻尺寸方案-机器视觉_视觉检测系统_视觉检测设备_3D缺陷检测
顶部背光检测原图(G8386152-003-AS1):

IC芯片自动化视觉检测电容电阻尺寸方案-机器视觉_视觉检测系统_视觉检测设备_3D缺陷检测
顶部背光检测良品分析图(G8386152-003-AS1):OK
IC芯片自动化视觉检测电容电阻尺寸方案-机器视觉_视觉检测系统_视觉检测设备_3D缺陷检测
顶部背光检测原图(P1071964-S1):

IC芯片自动化视觉检测电容电阻尺寸方案-机器视觉_视觉检测系统_视觉检测设备_3D缺陷检测

顶部背光检测良品分析图(P1071964-S1):OK

IC芯片自动化视觉检测电容电阻尺寸方案-机器视觉_视觉检测系统_视觉检测设备_3D缺陷检测

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